高壓并聯(lián)電抗器匝間短路的數(shù)模混合試驗方法研究
韓士杰1，2，王寅丞1，2，3，何初陽4
(1 國網(wǎng)電力科學(xué)研究院有限公司，江蘇 南京 211102；
2 南瑞集團有限公司，江蘇 南京 211102；
3 電網(wǎng)運行風險防御技術(shù)與裝備全國重點實驗室，江蘇 南京 211102；
4 南京師范大學(xué) 電氣與自動化工程學(xué)院，江蘇 南京 210023)
摘 要：匝間短路是電抗器運行過程中的常見故障類型，傳統(tǒng)的試驗技術(shù)在面對故障模擬時顯示出如模擬不同的短路精度不高、測量信號的采集和數(shù)據(jù)分析過程繁雜等局限性。提出了一種數(shù)?；旌显囼?/span>技術(shù)，結(jié)合了數(shù)字仿真技術(shù)的靈活性和物理動模的準確性，能夠模擬并計算電抗器在不同匝間短路下的故障特征，較為精確地控制故障模擬時長，并同步分析故障特征從而減少研究過程的時間成本。研究結(jié)果表明，通過數(shù)?；旌显囼?，可以更準確、快速地分析匝間短路的電氣特征，提高識別故障的有效性。
關(guān)鍵詞： 高壓并聯(lián)電抗器；匝間短路；數(shù)?；旌显囼灒晃锢砟M
中圖分類號：TM472 文獻標識碼：B 文章編號：1007-3175(2025)04-0059-05
Research on the Method of Hybrid Digital-Analog Experimentation for
Interturn Short Circuit of High Voltage Shunt Reactor
HAN Shi-jie1,2, WANG Yin-cheng1,2,3, HE Chu-yang4
（1 State Grid Electric Power Research Institute, Nanjing 211102, China;
2 NARI Group Corporation, Nanjing 211102, China;
3 State Key Laboratory of Technology and Equipment for Defense Against Power System Operational Risks, Nanjing 211102, China;
4 School of Electrical & Automation Engineering, Nanjing Normal University, Nanjing 210023, China）
Abstract: Interturn short circuit is a common type of fault in the operation of reactors. Traditional testing techniques shows some limitations in fault simulation, such as low accuracy in simulating different short circuits, complicated process of measurement signal acquisition and data analysis. This paper proposes a hybrid digital-analog experimentation technology that combines the flexibility of digital simulation technology and the accuracy of physical dynamic model, it can simulate and calculate the fault characteristics of the reactor under different inter-turn short circuits, control the fault simulation time more accurately, and analyze the fault characteristics synchronously to reduce the time cost of the research process. The results show that the electrical characteristics of interturn short circuit can be analyzed more accurately and quickly through hybrid digital-analog experimentation and physical testing method and the effectiveness of fault identification can be improved.
Key words: high voltage shunt reactor; interturn short circuit; hybrid digital-analog experimentation; physical simulation
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