大電流固封極柱溫升問題分析
王小麗1，楊海鋒2，王鵬1，紀(jì)江輝1
（1 許繼集團(tuán)有限公司，河南 許昌 461000；2 許昌許繼風(fēng)電科技有限公司，河南 許昌 461000）
摘 要：固封極柱的固封式結(jié)構(gòu)，導(dǎo)致導(dǎo)電體長期通電產(chǎn)生的熱量無法散出，溫升高引起絕緣失效成為固封極柱絕緣失效的主要原因。從影響溫升的主要因素進(jìn)行分析，提出減小主回路電阻、采用導(dǎo)電性好的材料、增加散熱面積等溫升解決方案。通過固封極柱溫升試驗(yàn)及方案優(yōu)化，驗(yàn)證了解決方案的可行性，并得出軟連接方案在解決大電流固封極柱溫升方面更具有優(yōu)勢。
關(guān)鍵詞：固封極柱；主回路電阻；導(dǎo)電材料；散熱面積；軟連接
中圖分類號(hào)：TM561.2 文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼：B 文章編號(hào)：1007-3175(2018)11-0056-04
Analysis of Temperature Rise Problem of Large Current Embedded Pole
WANG Xiao-li1, YANG Hai-feng2, WANG Peng1, JI Jiang-hui1
（1 XJ Group Corporation, Xuchang 461000, China; 2 XJ Wind Power Technology Co., Ltd, Xuchang 461000, China）
Abstract: The solid sealing structure of embedded pole leads to not dissipating the heat generated by the long-term conduction of the conductor. The high temperature rising is the main reason for the insulation failure of embedded pole. Based on the analysis of the main factors influencing on the temperature rising, this paper proposed the solutions such as reducing the circuit resistance, using conductive materials with good conductivity and increasing the heat radiation area. Through the temperature rising test and scheme optimization of the solid sealed pole, the feasibility of the scheme was verified.It is concluded that the high-current solid-blocking pole soft connection scheme has more advantages in solving the temperature rising problems.
Key words: embedded pole; main circuit resistance; conductive materials; heat radiation area; soft connection
參考文獻(xiàn)
[1] 紀(jì)江輝，張杰，王小麗，等.40.5 kV固封極柱的設(shè)計(jì)及工藝優(yōu)化[J]. 電工電氣，2016(12)：52-55.
[2] 吳建紅，葛樂矣，王福潤，等. 中壓固體絕緣環(huán)氧樹脂APG制造新工藝[J]. 電工電氣，2015(1)：47-50.
[3] 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì). 高壓開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)的共用技術(shù)要求：GB/T 11022—2011[S]. 北京：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社，2012：22-23.
[4] 黎斌.SF6高壓電器設(shè)計(jì)[M]. 3 版. 北京：機(jī)械工業(yè)出版社，2010.
[5] 國家能源局. 高壓開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)的共用技術(shù)要求：DL/T 593—2016[S]. 北京：中國電力出版社，2016：46.
[6] 張正周，宋新峰，獨(dú)田娃，等. 彈簧觸頭設(shè)計(jì)Ⅲ [J]. 高壓電器，2011，47(5)：87-91.
