剩余電流保護器抗浪涌電流沖擊性能的方法研究
范奇文，劉超，葛世偉，洪傳生，趙策
（浙江天正電氣股份有限公司，浙江 樂清 325604）
摘 要：浪涌電流沖擊試驗本身方法的不恰當，可能導致試品在試驗過程中損毀。以電子式1P+N 剩余電流保護器為分析對象，結合浪涌電流發生器及試驗電路的原理，闡述了該類剩余電流保護器因測試設備影響而產生故障的原因，針對3 000 A 浪涌電流沖擊試驗中試品RCD 發生故障開展分析并提出了改進措施。
關鍵詞：剩余電流保護器；浪涌電流；可控硅
中圖分類號：TM774 文獻標識碼：A 文章編號：1007-3175(2017)06-0055-03
Research on Anti Surge Current Impact Property of Residual Current Protector
FAN Qi-wen, LIU Chao, GE Shi-wei, HONG Chuan-sheng, ZHAO Ce
（Zhejiang Tengen Electric Shares Co., Ltd, Yueqing 325604, China）
Abstract: The improper surge current impact test itself might lead to the samples damaging in the process of the test. Taking 1P+N electronic residual current protector for the analytic target and combining with the principle of surge current generator and testing circuit, this paper expounded this sort of residual current protectors failure causes because of test equipment influences. Aiming at the testing products RCD malfunction in 3 000A surge current impact test, this paper carried out analysis and proposed the improved measures.
Key words: residual current protector; surge current; silicon controlled rectifier
參考文獻
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